9.2.3 Profilové parametre založené na krivke materiálového podielu

---

Jedná sa o parametre náročných funkčných povrchov, ktoré sú vytvorené pomocou dvoch výrobných procesov. Na povrchu sú potom stopy po obidvoch procesoch (napr. brúsený povrch, ktorý je následne čiastočne lapovaný, superfinišovaný alebo honovaný). Výsledky hodnotenia profilu povrchu inými parametrami by dávali nesprávny a nedostatočný údaj o funkčných vlastnostiach povrchu.
Pri týchto parametroch sa vždy vychádza z krivky materiálového podielu profilu drsnosti (tzv. Abbot-Firestonovej krivky), ktorá predstavuje grafické znázornenie hodnôt materiálového podielu, t. j. súčtu nosných dĺžok profilu drsnosti l(c) a príslušnej polohy miesta rezu profilu c (obr. 9.10). Z priebehu získanej krivky materiálového podielu možno posúdiť vhodnosť povrchu pre kontaktné povrchy, tesniace povrchy a pod. Rovnako možno usudzovať na zmenu parametra drsnosti a charakteru funkčných povrchov v dôsledku zábehu funkčných plôch, v priebehu opotrebenia povrchov a pod.
Podrobnosti o systémoch charakteru povrchu založených na krivke materiálového podielu sú v normách STN EN ISO 13565-1 až 3.
Porovnanie vhodnosti dvoch rôznych profilov drsnosti povrchov pre klzné alebo tesniace povrchy je na obr. 9.11.
Označenia profilových parametrov založených na krivke materiálového podielu sa uvádzajú v tab. 9.3, tab. 9.5 a tab. 9.6.

Porovnanie vhodnosti dvoch rôznych profilov drsnosti povrchov

---

Na obr. 9.11 sú zobrazené dva profsily drsnosti povrchov získané rôznymi spôsobmi obrábania: sústruženie a následné superfinišovanie (a) a sústruženie diamantom (b). Obidva povrchy majú skoro rovnaké hodnoty amplitúdových parametrov profilu povrchu Ra a Rz. Z kriviek materiálového podielu profilu možno zistiť, že pri polohe rezu v hĺbke c = 0,25 m má profil (a) materiálový podiel profilu Rmr(c)=Ml(c)/ln=70% a profil (b) Rmr(c)=15%.
Z uvádzaného porovnania je zrejmé, že profil (a) je omnoho výhodnejší pre klzné povrchy, povrchy v technike tesnení a pod. a že hodnotenia povrchov len pomocou amplitúdových parametrov nie sú vždy dostačujúce a objektívne.